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絕緣材料測試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III

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小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗(yàn)方法。
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計(jì)算機(jī)控制耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III測試儀器

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小電流絕緣漆耐電弧試驗(yàn)儀*HCDH-III

更新時(shí)間：2025-01-02

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小電流絕緣漆耐電弧試驗(yàn)儀*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗(yàn)方法。
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HCTZ-2S讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

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讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場合對元器件進(jìn)行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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HCTZ-2S自動修正手持式四探針測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

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自動修正手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場合對元器件進(jìn)行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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HCTZ-2S液晶顯示手持式四探針測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

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液晶顯示手持式四探針測試儀器，可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場合對元器件進(jìn)行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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Huace-991靜電塑料導(dǎo)電材料體積電阻率試驗(yàn)裝置

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靜電塑料導(dǎo)電材料體積電阻率試驗(yàn)裝置：在測量導(dǎo)電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時(shí)會因?yàn)殡姌O與被測量材料表面電阻而影響測量準(zhǔn)確性，本裝置采用四電極（四點(diǎn)探針或四探針）法測量導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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Huace-991北京華測金屬導(dǎo)電材料體積電阻率試驗(yàn)裝置

更新時(shí)間：2023-12-19

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北京華測金屬導(dǎo)電材料體積電阻率試驗(yàn)裝置：在測量導(dǎo)電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時(shí)會因?yàn)殡姌O與被測量材料表面電阻而影響測量準(zhǔn)確性，本裝置采用四電極（四點(diǎn)探針或四探針）法測量導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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